試料作製
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小型高周波誘導真空溶解炉
(富士電波工業社製: FVM-10) -
高温熱処理炉
（広築社製） -
卓上精密切断機
(Metkon社製: MICRACUT 202) -
精密試料自動研磨機
(Struers社製: TegraPol-21) -
振動研磨機
(Buehler社製: VibroMet 2) -
イオンスパッタ装置
(日本電子社製: JEC-3000FC)
形状・組織観察
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デジタルマイクロスコープ
(KEYENCE社製: VHX-5000) -
工業用倒立顕微鏡
(Leica社製: DMi8) -
3D測定レーザー顕微鏡
(OLYMPUS社製: LEXTTM OLS5100) -
卓上走査電子顕微鏡
(日本電子社製: JCM-6000) -
走査電子顕微鏡
(日本電子社製: JSM-IT300) -
エネルギー分散型X線分析装置
(OXFORD社製: X-MaxN 50)
測定・分析
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示差走査熱量測定装置
(Mettler-Toledo社製: DSC3+) -
Bending Free Recovery方式
変態温度測定装置 -
炭素・硫黄分析装置
(堀場製作所社製: EMIA-Pro) -
酸素・窒素分析装置
(堀場製作所社製: EMGA-920)
水素分析装置
(堀場製作所社製: EMGA-921) -
波長分散型蛍光X線分析装置
(リガク社製: ZSX Primus) -
デスクトップX線回折装置
(リガク社製: MiniFlex)
力学特性評価
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マイクロビッカース硬さ試験機
(ミツトヨ社製: HM-200) -
形状記憶合金ばね特性試験機
(インテスコ社製) -
精密万能試験機
(島津製作所社製: オートグラフ AG-Xplus) -
卓上型万能材料試験機
(INSTRON社製: 68TM-50)